分会

第四十分会：胶体与界面化学

摘要

表面力测定可以对界面的微观性质以及由界面主导的介观和宏观现象和过程提供独特的视角。表面力测定技术主要有三种：SFA（表面力仪）、AFM（原子力显微镜）胶体微球探针技术和AFM纳米探针技术。虽然表面力测定得到了广泛的研究，但一直存在实验结果之间差异较大、与经典理论（如DLVO理论和双电层理论）不符的主要问题。主要表现为：1）不同实验测得的范德华力（色散力）和拟合得到的Hamaker常数差异很大；2）拟合静电力得到的电位和电荷密度极度偏低（电位甚至低于zeta电位）。我们推断这些问题是由未考虑的系统误差引起的。本文提出了表面粗糙度、表面形状和弹性系数三个系统误差来源，并提出了三种表面力测定技术中校正这些系统误差的理论方法，最后给出了相应的实验验证。本研究证明，本文中提到的三种系统误差导致了现有研究中难于解释实验结果以及错误解读实验力曲线的现象。基于正确的系统误差修正方法，可以合理解释实验，促进理论研究，打开胶体与界面科学领域研究的新局面。

关键词

静电力;表面电位;粗糙度;形状;弹性系数

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